設備を検索 - 国立大学法人名古屋工業大学

表示方法
グリッド
階層

01.TEM1室
- TEM(2100Plus)
02.TEM2室
- TEM(F200)
- ｲｵﾝﾐﾘﾝｸﾞPIPS-Ⅱ
- ﾃﾞｨﾝﾌﾟﾙｸﾞﾗｲﾝﾀﾞｰ
- ﾏﾙﾁ成膜装置
03.TEM3室
- 3D-TEM(z2500)
- TEM(1400Plus)
- 局所熱分析装置(Nano-TA, VESTA)
- 凍結試料作製装置
- ｳﾙﾄﾗﾐｸﾛﾄｰﾑ
04.TEM4室
- TEM(2100)
- 複合ﾋﾞｰﾑ加工観察装置
05.TEM5室
- TEM(ARM200F)
06.FIB-SEM室
- CCP
- FIB-SEM(4700F)(1)
- FIB-SEM(4700F)(2)
- SEM(IT200LA)
- ｵｰﾄﾌｧｲﾝｺｰﾀｰ
- ﾜｲﾔｰｿｰ(3500P)
07.EPMA室
- EPMA(8530F)
- Pt-Pdｺｰﾀｰ
- SEM(7001F)
- ｶｰﾎﾞﾝｺｰﾀｰ
09.SEM3室
- SEM(7800F)
- ｵｽﾐｳﾑｺｰﾀｰ
10.XRD室
- XRD(SmartLab)
- XRD(SmartLabSE)
11.表面粗さ計室
- SPM(SPM-9700)
- 表面粗さ計(1400G)
12.AES室
- AES(9500F)
13.XPS室
- XPS(Quantes)
14.SIMS室
- TOF-SIMS
16.成膜室
- ﾏｸﾞﾈﾄﾛﾝｽﾊﾟｯﾀ装置
31.NMR室
- NMR(400)
- NMR(500)
- NMR(700)
32.固体NMR室
- NMR(600固体)
33.質量分析室
- LC/MS(Cyclic)
- LC/MS(Synapt)
- MALDI(S3000plus2)
- 全自動元素分析装置
- ﾏﾄﾘｯｸｽ自動塗布装置
- ﾏﾄﾘｯｸｽ蒸着装置
34.熱分析室
- TG/DTA(8120)
35.ESR室
- ESR(FA200)
36.赤外ラマン分光室
- FT-IR(6300)
- ﾗﾏﾝ(NRS-5500)
37.物質ダイナミックス室
- 熱機械分析装置(SS7100C)
- 粘弾性測定装置(DMS6100)
- ﾀﾞｲﾅﾐｯｸDSC(DSC8000)
- ﾊﾟﾙｽNMR
- ﾚｵﾒｰﾀｰ
38.RI実験室
- ﾒｽﾊﾞｳｱｰ分光装置
40.生体物質構造分光解析室
- 3次元顕微蛍光寿命ｲﾒｰｼﾞﾝｸﾞ装置
- 単結晶XRD
41.ICP室
- ICP(9820)
42.時間分解赤外分光室
- TR-FTIR
51.ｶﾞﾗｽ工作室室
- ｶﾞﾗｽ工作室
52.低温室
- PPMS
- SQUID(3)
- SQUID(4)
I.RCS-I室
- 顕微蛍光X線分析装置
- 読取機能一体型X線ﾗｳｴｶﾒﾗｼｽﾃﾑ
- 白色共焦点顕微鏡
II.RCS-II室
- 小規模並列計算機
M.未来通信研究センター
- BCI/TWC/DPIｲﾐｭﾆﾃｨ試験ｼｽﾃﾑ
- EMIﾚｼｰﾊﾞｰ
- 光･電気通信波形解析ｼｽﾃﾑ
- 車載ｲｰｻﾈｯﾄﾊﾟﾌｫｰﾏﾝｽﾃｽﾀｰ
- 小型環境試験器
- 中型電波暗
- 通信性能評価汎用機器
- 電気車載ｲｰｻﾈｯﾄ評価ｼｽﾃﾑ
- ｴﾐｯｼｮﾝ試験ｼｽﾃﾑ
- ｼｰﾙﾄﾞﾙｰﾑ
- ﾈｯﾄﾜｰｸｱﾅﾗｲｻﾞ
V.RCS-V室
- ICP発光分析装置
- 核磁気共鳴装置
- 共焦点ﾚｰｻﾞｰ顕微鏡
- 酸素･窒素･水素分析装置
- 絶対分子量測定装置
- 走査型電子顕微鏡
- 炭素･硫黄分析装置
- 熱天秤－質量分析装置
- ｸﾞﾛｰ放電発光表面分析装置
- ﾗﾏﾝ分光-原子間力顕微鏡
VI.RCS-VI室
- 液体ｸﾛﾏﾄｸﾞﾗﾌ質量分析計(19-240室)
- 液体ｸﾛﾏﾄｸﾞﾗﾌ質量分析計(19-619室)
- 円二色性分散計
- 核磁気共鳴装置(300)
- 高感度近赤外型絶対PL量子収率測定装置
- 分光光度計(3700)
- 分光光度計(UV3600)
- ｾﾞｰﾀ電位･粒子径測定装置
- ﾅﾉ秒時間分解分光測定装置
VIII.RCS-VIII室
- X線CT装置(100)
- X線CT装置(225)
- 磁界-磁化ｱﾅﾗｲｻﾞ
- 多光子励起ﾚｰｻﾞ走査型顕微鏡